기타 시험기

yyf-50kn 느린 변형 속도 응력 부식 시험기

1. 장비 개요

1.1 명칭, 모델 및 사양

명칭: 느린 변형 속도 응력 부식 시험기 모델: YYF-50

사양 최대 부하 50kn

1.2 기능 개요

느린 변형 속도(SSRT) 응력 부식 시험기는 부식 환경에서 재료에 대한 부식 인장 시험을 실시하는 데 사용되며, 주로 부식 용액에서 금속 재료의 응력 부식 민감성을 연구한다.

호스트 구조는 프레임 형태로, 로드 유닛은 테스트 요구에 따라 상단 또는 하단에 유연하게 설치되어 서로 다른 매체 환경의 테스트 요구에 적응한다.

환경 매질은 저온과 상압 하에서 용액 매질이다. 실험 주전자는 일반적으로 고붕규산염 유리로 만들어져 설비 비용을 낮출 뿐만 아니라 일반 매체에 대한 내식성을 보장한다.

2. 주요 기술 매개변수

아니요.	항목	매개
1	프로세서 CPU	DM&P Vortex86DX CPU 800MHz
2	컨트롤러 시스템 클럭	최대 2.5khz, 2.5khz용 16개의 센서
3	제어 및 측정	64비트 프로세서 정확한 제어, 24비트 a/d 변환
4	시스템 시간 선택할 수 있습니다.	400µs, 500µs~1000µs
5	PC 통신 인터페이스	USB 2.0 전속 속도선 네트워크 100mbit
6	PC와 데이터 전송 주파수	최대 1.0khz
7	외부 제어 상자/디스플레이 rs485 인터페이스	최대 4개의 장치 지원
8	동적 테스트 주파수	최대 20hz
9	인코더 입력 채널	최대 32hz/8mhz 응용 프로그램. 300kHz
10	디지털 입력 24v	8개
11	디지털 출력 24v	8개
12	센서	COM1 (내장)
13	디버그 인터페이스	COM2 115kB
14	동기화 데이터 수집 및 이동 제어	만족
15	버스 확장 슬롯	2개
16	모든 확장 모듈	최대 10khz
17	하중, 변형 또는 lvdt 해상도	± 180000 야드
18	변위, 하중 및 변형 제어 스위칭	제어 모드 간에 충격이 없는 원활한 전환
19	실현가능한 동적 파형	사다리파와 삼각파와 사인파의 동적 테스트를 실현할 수 있다
20	드라이브	아날로그 명령: ± 10v; 디지털 명령: ± 15비트 해상도
21	하중, 변형 또는 lvdt 해상도	300mA

메시지 남기다

이메일로 연락도 할 수 있습니다. 제 이메일 주소는 admin@hssdtest.com